Huang Ken Wei | SOBENA 2024 | Galoá Proceedings

Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)

Huang Ken Wei

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Use of Machine Learning for Fault Diagnosis in Ship Machinery and Offshore Platforms
PINTO, Luiz Antônio Vaz ¹
SILVA, Alina Silvestre Siqueira e ²
MONTEIRO, Ulisses Admar Barbosa Vicente ³
BARROSO, Patric Hiroyuki Nacao ²
WEI, Huang Ken ²
MARTINS, Dionisio Henrique Carvalho de Sá Só ⁴
¹ UFRJ - Universidade Federal do Rio de Janeiro
² Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)
³ Universidade Federal do Rio de Janeiro
⁴ CEFET
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308018

Digitalization and artificial intelligence

Oral communication - Step 2

Co-authors (5)